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聯(lián)訊mBT3210多通道10G誤碼分析儀主要特點： - 多通道：1/2/4路獨立碼型發(fā)生器及誤碼探測器通道； - 速率（準）連續(xù)可調：1.25Gb/s~14.5Gb/s標準測試速率； - 輸出幅度可調：輸出幅度獨立可調；
是德科技N5531X測量接收機提供真正的一站式解決方案，用于信號發(fā)生器和步進衰減器的可追溯校準緊湊，真正的“一體式”測量接收機解決方案，頻率高達50 GHz 以計量級精度校準信號源和步進衰減器 使用PXA的多點觸控用戶界面輕松執(zhí)行所有測量 調諧RF電平（TRFL）測量的最小RF功率低至-150 dBm
SE800PV激光橢偏儀光譜橢偏儀SE 800 PV是分析結晶和多晶硅太陽能電池防反射膜的理想工具。可以測量單層薄膜（SiNx、SiO2、TiO2、Al2O3）和多層疊層膜（SiNX/SiO2、SiNx1/SiNx2、SiNx/Al2O3）。
SENTECH臺式薄膜探針反射儀FTPadv通過選擇合適的配方，F(xiàn)TPadv反射儀以小于100ms的測量速度、精度小于0.3nm、厚度范圍為50nm-25μm的精度進行厚度測量。
RM1000反射膜厚儀反射膜厚儀RM 1000和RM 2000測量具有光滑或粗糙表面的平坦或彎曲樣品的反射率。利用SENTECH FTPadv Expert軟件計算單層或層疊膜的厚度、消光系數(shù)和折射率指數(shù)。在紫外-可見光- 近紅外光譜范圍內，可以分析5nm～50μm厚度的單層膜、層疊膜和基片。
安科瑞泰SE500adv橢偏反射儀SE 500adv結合了橢偏儀和反射儀，除了測量透明膜層厚度的模糊性。它把可測量的厚度擴展到25m，因此SE 500adv擴展了標準激光橢偏儀SE 400adv的能力，特別適用于分析較厚的介質膜、有機材料、光阻、硅和多晶硅薄膜。
安科瑞泰SE400adv激光橢偏儀我們的激光橢偏儀SE 400adv的高速測量速度使得用戶可以監(jiān)控單層薄膜的生長和終點檢測，或者做樣品均勻性的自動掃描。
菊水TOS6210地線導通測試儀TOS6210是一款不僅能符合IEC、EN、VDE、BS、UL、JIS等安全標準的要求，而且還可適用信息處理設備（ITE）標準UL60950-1的地線導通測試儀。
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